Описание:

Стандарт универсальности и производительности.

Микроскоп Tecnai G2 30 является новейшим 300 кВ ПЭМ с непревзойденным пользовательским интерфейсом. Под управлением ОС WindowsXР, он обеспечивает высокую производительность и универсальность, а также простоту использования в индивидуальной рабочей среде. Оборудование, которое может быть дополнительно установлено, например, СПЭМ, CDD камеры, детекторы для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронами (EELS) и энергетические фильтры, встроены в пользовательский интерфейс, что позволяет операторам с разным опытом работы в полной мере использовать все функциональные возможности системы через один понятный интерфейс.

Электронный пучок 300 кВ в данном микроскопе обеспечивает высокое разрешение для данной геометрии объектива, а также более высокий ток пучка и проникновение в образец по сравнению с ПЭМ, использующим 200 кВ.

Гибкость при изменении высокого напряжения на любое значение в течение минуты позволяет работать всегда при оптимальных условиях эксперимента. Обычно предустановлено два различных ускоряющих напряжения, но по запросу могут быть добавлены и другие напряжения. Режимы меняются довольно просто и есть возможность сохранить неограниченное количество пользовательских настроек, что делает оптимизацию и переключение режимов быстрым и элементарным.

Tecnai G2 30 оснащен эмиттером LaB6 и демонстрирует свои возможности практически на пределе разрешения его объектива. Делокализация информации об изображении, таким образом, сведена к минимуму, и результатом работы являются непосредственно изображения, поддающиеся интерпретации. Кроме того, эмиттер на основе LaB6 создает более высокий ток пучка, что выгодно для работы с низким и средним увеличением, и особенно в сочетании с энергетическим фильтром для визуализации отдельных элементов, так как отношение сигнала к шуму становится гораздо лучше. Tecnai G2 30 может поставляться в целом ряде различных пользовательских конфигураций.

Доступен целый ряд запатентованных симметричных объективов, каждый со своими уникальными качествами для полного удовлетворения всех требований вашей задачи: S-TWIN с высоким разрешением или U-TWIN со сверхвысокой разрешающей способностью для использования с сильным наклоном (для томографии угол достигает ± 75° ). 

Кроме того, доступен широкий спектр программного обеспечения для решения различных научных задач, калибровки, автоматизации и установки дистанционного управления.

Характеристики

• Сверхвысокий вакуум
• Источник электронов50 - 300 кВ
• Увеличение58 x - 970 kx (ПЭМ) 100 x - 5Mx (СПЭМ)