Описание:

Лучшая система для наноанализа

Серия микроскопов Tecnai G2 F30 – надежные и проверенные временем просвечивающие электронные микроскопы со STEM режимом, с уникальным пользовательским интерфейсом, ориентированным на решение различных задач. Для удобства пользователей управление дополнительными устройствами интегрировано в единую систему. Это дает возможность использовать оператору все функции основных систем микроскопа через один пользовательский интерфейс, позволяя легко контролировать все системы оператору любого уровня.

Микроскопы серии Tecnai с источником полевой эмиссии сочетают в себе новейшие достижения электронной оптики, основанные на высоком разрешении, стабильности и управляемом перемещении образца. Ускоряющее напряжение в 300 кВ является оптимальным для большинства приложений. Доступные для серии Tecnai G2 F30 линзы позволяют выбрать оптимальное соотношение наклона и разрешения, а также аналитические параметры, необходимые для Ваших применений. В микроскопе возможно хранить неограниченное число предварительных пользовательских установок (включая настройку пушки с полевой эмиссией), что позволяет облегчить работу с прибором большому количеству пользователей.

Для улучшения результатов работы данная серия предусматривает переключение и оптимизацию ускоряющего напряжения с 300 кВ на любое другое значение менее чем за 1 минуту. Это является достаточно важным, поскольку при различных ускоряющих напряжениях механизмы повреждения образца могут быть различны. Некоторые механизмы практически прекращают свое действие при 300 кВ (например, радиолиз), однако, другие могут усиливаться (выбивание частиц).

Система отлично работает и при низких напряжениях, а настройки можно сохранять для каждого пользователя. Управление всеми параметрами микроскопа осуществляется с помощью ПК, а смена режимов ПЭМ и СПЭМ происходит за секунды.

Серия микроскопов Tecnai оснащена следующими программами компании FEI: программа для автоматического восстановления фокуса (TrueImage), программа автоматизированной томографии (Xplore 3DTM), а также программа для работы с радиационно-нестойкими образцами (биологические материалы, полимеры) в режиме малого облучения.

По сравнению с более низкими напряжениями, 300кВ позволяет получить более высокое разрешение и работать с более толстыми образцами. Увеличение яркости и тока при микроанализе можно получить за счет увеличения отношения сигнала к шуму. Если нужен меньший разброс по энергии, необходимо просто переключиться на более низкое ускоряющее напряжение. Например, в режиме 200 кВ можно получить результаты, аналогичные тем, что получаются на приборе, работающем только при 200 кВ.

Компьютеризованный предметный столик позволяет получить:

• высочайшее разрешение для томографии
• максимизированный наклон
• максимальную стабильность

Характеристики

• Отличные характеристики формирования изображений в режимах ПЭМ, СПЭМ и наноанализа
• Сверхвысокий вакуум
• Высокая пространственная когерентность благодаря ультрастабильному источнику Шоттки
• Высочайшая стабильность ускоряющего напряжения обеспечивает разброс энергии менее 0.8 эВ
• Источник электронов50 - 300 кВ
• Увеличение58 x - 970 kx (ПЭМ) 150 x - 230 Mx (СПЭМ)