Описание:

Микроскоп Titan 60-300 сочетает в себе новый дизайн платформы, предназначенный для реализации идеальной стабильности, максимальной производительности и максимальной гибкости для технологии корректора и монохроматора и их применений. Микроскоп переносит информацию в изображение с субангстремным разрешением, стремясь к высочайшей производительности, доступной как для ПЭМ, так и для СПЭМ.

Исследования на наноуровне стремятся улучшить наше понимание наноструктур и функциональных материалов, связывая макроскопические свойства материала практически со свойствами атомов. Это постоянное стремление толкает к лучшему пониманию локальной организации атомов и их характеристик, химических связей и даже электронной структуры. Titan G2 60-300 является самым мощным СПЭМ с высоким разрешением с большим набором ускоряющих напряжений - от 60 до 300 кВ для 2D и 3D характеризации материалов и химического анализа вплоть до атомного уровня. Микроскоп обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов в СПЭМ и ПЭМ визуализации и химическом анализе, давая возможность объединить Cs-коррекцию, монохроматор, и новую доступную ультрастабильную электронную пушку с высокой яркостью (X-FEG) в одном приборе.

Titan G2 60-300 с Cs-коррекцией позволяет проводить исследования в СПЭМ режиме с фокусировкой на зонде или в режиме ПЭМ с параллельным пучком, дающим пространственное разрешение 80 пм. Система основана на технологии платформы Titan, которая не имеет аналогов по механической, электронной, тепловой и оптической стабильности и предназначен для обеспечения высочайшей производительности во всех режимах работы: ПЭМ, СПЭМ, ПЭМ с энергетическим фильтром (EFTEM), дифракции и спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS), а также и энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS). Гибкость в управлении напряжением в диапазоне от 60 до 300 кВ позволяет оптимизировать этот важный параметр под требования конкретного материала, от сверхлегких углеродных соединений до ультра-плотных тяжелых металлических материалов. Кроме того, Titan G260-300 предназначен для динамических экспериментов, а его S-TWIN объектив захватывает пространство больше площади образца.

Инновационная запатентованная модульная конструкция производит улучшение поля с помощью Cs-коррекции, что позволяет применять двухэтапный подход для улучшению метода в лаборатории. Стабильность, производительность и простота использования Titan'а позволяют внести коррективы в микроскопию, чтобы ее можно было использовать на новом уровне исследований, где новые открытия о взаимосвязи структуры и свойств материала станут возможными благодаря уменьшению масштабов. Титан имеет все шансы продвинуть электронную микроскопию в новую эру путем расширения границ и достижения новых результатов в исследованиях нано диапазона.

Технические показатели

• Ультрастабильная электронная пушка с полевым эмиттером Шоттки с высокой яркостью (X-FEG).
• Новая система трех объективов с количественным опеделением угла сходимости и размера освещенной области, необходимыми для определения степени электронного облучения и условий освещения.
• Гибкость выбора высокого напряжения от 60 до 300 кВ (60, 80, 120, 200, 300 кВ)
• Монохроматор для электронной пушки с высоким энергетическим разрешением в EELS с симметричным распределением энергии и улучшенным пространственным разрешением, особенно при низких напряжениях для HR-S/TEM.
• Cs-коррекция зонда и изображения
• Разрешение 80 пм
• Запатентованная модульная конструкция колонны позволяет минимизировать нестабильность и электронные шумы
• Конструкция ConstantPower объектива разработана для максимальной термической стабильности в режимах работы и при их переключении
• Низкий уровень гистерезиса минимизирует перекрестные помехи между оптическими компонентами
• Симметричный S-TWIN объектив позволяет использовать специальные держатели для нагрева, охлаждения, двухосевой томографии и СТМ / АСМ методов
• Апертура объектива в задней фокальной плоскости подходит для применения ПЭМ в режиме темного поля
• Возможность модификации датчика изображения или Cs-корректора
• Автоматические апертуры для дистанционного контроля и возврата позиции диафрагмы при изменении апертуры
• Визуализация в режиме без вращения для облегчения управления и четкого отношения между изображением и плоскостью дифракции
• Компьютеризированный пятиосевой держатель образцов для точного повторного вызова нужного образца и стабильности для обеспечения субангстремного разрешения с небольшим дрейфом
• Угол наклона ± 40 градусов для аналитического  держателя с возможностью наклона по двум осям для того, чтобы сориентировать максимальное количество зон одного кристалла в поликристаллическом материале. Держатель для томографии использует угол наклона ± 80 градусов, чтобы минимизировать упущенную часть при 3D-реконструкции
• Визуализация без поля (< 2 Oe) в Лоренцевском режиме с 2 нм разрешением для изучения магнитных свойств
• В особых случаях можно применить Cs-корректор и добиться 1 нм разрешения
• Доступно программное обеспечение (TrueImage) для использования HR-TEM
• По специальному заказу возможно свести к минимуму дрейф мультизагрузчика после загрузки образцов и максимизировать пропускную способность
• Xplore3D - программное обеспечение для режима автоматизированной томографии (С)ПЭМ и для сверхбыстрой трехмерной реконструкции

Ключевые преимущества

• Увеличение возможностей визуализации и анализа с Cs-корректором и(или) монохроматором
• Максимальное качество результатов благодаря выбору оптимального ускоряющего напряжения (от 60 до 300 кВ), минимизация артефактов и усиление контраста
• Повышение пространственного разрешения до уровня 80 пм
• Максимизация получаемой информации с одного образца с помощью свободной от поля визуализации (< 2 Oe) с нанометровым разрешением для магнитных материалов
• Максимальная приспособляемость в дифракции (NBD, CBED, LACBED) с новой калибровочной системой
• Максимизация когерентности и яркости источника электронов с помощью эффективных и стабильных электронных пушек X-FEG
• Минимизация разброса энергии электронов у источника с помощью добавления монохроматора (< 0.2 эВ) для применений в спектроскопии HRTEM и EELS

Характеристики

• Ускоряющее напряжение 60 - 300 кВ
• Пространственное разрешение 80 нм