Описание

Система микроскопии сверхвысокого разрешения N-SIM от компании Nikon построена на использовании технологии SIM (structured illumination microscopy), т.е. микроскопии структурированного освещения.

Благодаря использованию лицензированной технологии структурированного освещения система микроскопии сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM, оснащённая объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1.49), имеет разрешение, в два раза превышающее разрешение обычных оптических микроскопов.

Система сверхвысокого разрешения N-SIM (микроскопия структурированного освещения) от компании Nikon отлично подходит для получения изображений живых клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью. Система сверхвысокого разрешения N-SIM от Nikon – это эффективный и высокоточный инструмент для исследования клеточных структур и биологических объектов.

Новая методика освещения Nikon TIRF-SIM (флуоресценция полного внутреннего отражения - микроскопия структурированного освещения) позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран.

Новая методика освещения Nikon 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счёт чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении глубиной до 20 мкм.

Технические характеристики