Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой VT SPM применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Стабильные низкие значения тока важны для исследования чувствительных или плохо проводящих поверхностей. Для спектроскопии модуляции электронная компенсация уменьшает влияние паразитных токов, что экономит время сбора данных и улучшает результаты.

Схема предусиления и внутренней емкостной компенсации с помощью программноуправляемого коэффициента усиления

Ключевые особенности:

• 25 K — 1500 K
• Реальная пикоамперная сканирующая туннельная микроскопия
• Усовершенствованная спектроскопия dI/dV
• АСМ
• АСМ с датчиком QPlus
• in-situ испарение
• Системы зондовой микроскопии с переменной температурой Omicron успешно себя зарекомендовали во многих исследовательских лабораториях. На сегодняшний день по всему миру установлено более 500 приборов, а их качество, универсальность и высокая производительность подтверждается большим пулом результатов исследований и публикаций.