В настоящее время для серии UltraXRM-S доступна работа с разрешением до 30 нм, что позволяет получать информацию о микроскопических структурах и процессах, которая ранее была недоступна при работе с традиционными рентгеновскими технологиями визуализации.
Неотъемлемой чертой синхротронных источников является легкая настройка энергии рентгеновского излучения, что позволяет серии UltraXRM-S распознавать различные элементы в объеме и собирать данные абсорбционной спектроскопии с пространственным разрешением. Несколько встроенных переключаемых конфигураций рентгеновской оптики обеспечивают доступность использования рентгеновских лучей с широким спектром энергий: от обычно используемых 5 - 11 кэВ в конфигурации высокой энергии до 280 - 540 эВ и ниже в конфигурации низкой энергии. Современные технологии для повышения отражения конденсоров в сочетании с использованием источников синхротронного излучения второго и третьего поколения с высокой яркостью обеспечивают быстрое и точное получение трехмерных изображений. Интегрированный режим фазового контраста Цернике совмещенный с простой в использовании юстировочной системой позволяет визуализировать образцы с низким коэффициентом поглощения рентгеновского излучения в установленном режиме различных энергий фотонов.