Регистрация
deal.by
  • Электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D - фото 1 - id-p174919564
  • Электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D - фото 2 - id-p174919564
  • Электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D - фото 3 - id-p174919564
  • Электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D - фото 4 - id-p174919564
Электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D - фото 1 - id-p174919564
Характеристики и описание
    • Производитель
      FEI
    • Страна производитель
      США

Описание:

Универсальная двулучевая система Versa 3D для трехмерной визуализации, определения характеристик материалов, прототипирования и исследований, в том числе и в естественных условиях.

Сочетание в системе двух лучей позволяет исследовать поверхностные и подповерхностные области любых образцов (нанометрового и микрометрового масштаба), а также изготавливать кросс-секции объекта исследования.

Производит подготовку высококачественных образцов для исследований в просвечивающем электронном микроскопе (TEM).

Гибкость конфигурации вакуумного режима прибора  позволяет исследовать токопроводящие образцы в в режиме высокого вакуума или  токопроводящие и непроводящие образцы в режиме высокого и низкого вакуумов.

Программное обеспечение Auto Slice и View G3 позволяет выполнять трехмерный анализ характеристик широкого спектра материалов.

Имеет возможность проводить динамические эксперименты с газовым и термическим контролем.

 

Технические характеристики:

Таблица значений разрешения электронного луча (нм)

Конфигурация системы Versa 3D

Модель

HiVac

HiVac/LoVac

HiVac/LoVac/ESEM

Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ

1,2

1,2

1,2

Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ с PC*

1,0

1,0

1,0

Разрешение сканирующей просвечивающей электронной микроскопии 30 кВ

0,8

0,8

0,8

Разрешение детектора отраженных электронов 30 кВ

2,5

2,5

2,5

Разрешение детектора вторичных электронов 15 кВ

1,5

1,5

1,5

Разрешение детектора вторичных электронов 15 кВ

1,3

1,3

1,3

Разрешение детектора вторичных электронов 1 кВ

2,9

2,9

2,9

Разрешение детектора вторичных электронов 1 кВ с BD*+ICD* и PC*

2,0

2,0

2,0

Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ

 -

1,5

1,5

Разрешение детектора отраженных электронов 30 кВ

 -

2,5

2,5

Разрешение детектора вторичных электронов 3 кВ

 -

3,0

3,0

Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ

 -

 -

1,5

Разрешение детектора вторичных электронов 3 кВ

 -

 -

3,0

* опциональные компоненты 
(PC = плазменный очиститель, BD = замедление луча, ICD – встроенный в колонну детектор)
Был online: 23.04
ООО "Тактиком"
Продавец ООО "Тактиком"
Рейтинг не сформирован
2 года на Deal.by

Электронно-ионный микроскоп FEI Versa 3D

Под заказ
Цену уточняйте
Минск ∙ 
Продавец ООО "Тактиком"
Доставка
Оплата и гарантии

У нас покупают