Описание:

Наша самая универсальная двухлучевая система для 2D и 3D характеризации и анализа материалов - Quanta 3D имеет три режима воспроизведения изображения (высокого вакуума, низкого вакуума и режим естественной среды) для взаимодействия с широким спектром образцов. Встроенная система сфокусированного пучка ионов (ФИП) добавляет к его возможностям приготовление поперечных срезов, что расширяет диапазон возможных применений прибора. Режим естественной среды позволяет проводить in situ изучение динамического поведения материалов при различных уровнях влажности (до 100% относительной влажности) и температуры (до 1500 ° C) в различном диапазоне давлений.

Quanta 3D открывает новые возможности и эксплуатационную гибкость для инженеров и исследователей, испытывающих необходимость в получении характеристик материала, проведении анализа неисправностей или управлении процессами в промышленности или научной среде. Он сочетает в себе традиционную сканирующую электронную микроскопию (СЭМ) со сфокусированным ионным пучком в дополнение к существующим инструментам лабораторного исследования и расширяет диапазон приложений для 3D исследования, наноанализа, пробоподготовки для ПЭМ или структурной модификации поверхностей образцов в нанометровом масштабе. Quanta 3D отличается от обычных СЭМ возможностью интегрированного микро-секционирования, необходимой для изучения образца под поверхностью.
 

Характеристики

Максимальная влажность образца 100%

Максимальная рабочая температура 1500° C