Описание:

Новый класс инструментов с экстремально высоким разрешением (XHR SEM). Позволяет видеть трехмерные изображения поверхностей образцов под различными углами при разрешениях менее одного нанометра (порядка размеров десяти атомов водорода, выстроенных рядом в линейку). Важно, что микроскопы Magellan XHR SEM обеспечивают визуализацию образцов при очень низких энергиях электронного пучка.