Talos обеспечивает быстрый и точный количественный анализ материалов в нескольких измерениях. В нем объединены выдающаяся визуализация и высокое разрешение в режиме STEM с лучшим детектированием сигнала EDX, химическим анализом 3-мерных объектов и функцией картирования.

Используемый источник полевой эмиссии последнего поколения (FEI XFEG) с высокой яркостью обеспечивает высокое значение тока пучка – до 5 раз больше, чем у стандартной автоэмиссионной электронной пушки с эффектом Шоттки. При этом угол сведения лучей остается малым. Благодаря этому обеспечены улучшенные параметры сигнал-шум и очень высокое разрешение как STEM, так и EDX. Talos идеален для динамических исследований благодаря используемой камере Ceta 16M с большим полем зрения и высокой скоростью работы, и пьезо-столику, позволяющему осуществлять точную навигацию по образцу.

Talos имеет дружественный интерфейс, удобную навигацию по образцу. Доступен удаленный доступ к системе.

Области применения: материаловедение, естественные науки.

Основные преимущества:

• Разрешение: 0,16 нм
• Диапазон увеличений для TEM (для отдельных моделей): 25х – 1 500 000х
• Диапазон увеличений для STEM (для отдельных моделей): 150 х – 230 000 000х
• Ток пучка >50 нА
• Энергетическое разрешение EDX на линии K?1,2 марганца не более 136 эВ
• Быстрое рентгеновское картирование: скорость получения сигнала от 1 точки до 10 мкс
• Пространственный угол EDX 0,9 стерадиан

Технические характеристики: