Описание

AZX 400 – рентгеновский флуоресцентный спектрометр, специально разработанный для анализа больших и/или тяжелых образцов. Позволяет проводить анализ образцов диаметром до 400 мм, толщиной до 50 мм и массой до 30 кг. Спектрометр AZX 400 подходит для анализа магнитных дисков, многослойных пленок или элементного анализа больших образцов.

Универсальная система адаптации для образцов

AZX 400 обладает универсальной системой адаптации к образцам разнообразного размера и формы. Универсальная система имеет автоматическую пяти-ступенчатую адаптацию анализируемой области (диаметр анализируемой области может колебаться от 0,5 мм до 30 мм) и возможность многоточечной проверки однородности. Данная гибкость измерительной системы поможет значительно ускорить процесс контроля качества.

Камера наблюдения за образцом со специальным освещением

При помощи камеры, со специальным освещением, за исследуемым образцом ведется постоянное наблюдение в режиме реального времени. Оператор может наблюдать на экране за процессом анализа и контролировать ход исследования.

Аналитические возможности рентгеновского флуоресцентного спектрометра

Все аналитические возможности традиционных рентгено-флуоресцентных спектрометров успешно реализованы в модели для образцов большого размера AZX 400. Данная модель позволяет проводить анализ элементов от бериллия до урана с высоким разрешением и высокой точностью в тонких пленках, порошках, твердых и жидких образцах. AZX 400 соответствует стандартам SEMI и CE.

Преимущества:

• Позволяет анализировать образцы большого размера и массы
•   диаметр образца: до 400 мм; 
•   высота образца: до 50 мм; 
•   масса образца: до 30 кг.
• Универсальная система адаптации для образцов.
• Автоматическая пяти-ступенчатая система адаптации анализируемой области
•   диаметр анализируемой области может колебаться от 30 мм до 0,5 мм.
• Возможность многоточечного измерения.
• Видеокамера для наблюдения за образцом в режиме реального времени.
• Элементный анализ от бериллия до урана.
• Широкий анализируемый диапазон от единиц ppm до десятков процентов.
• Анализируемый слой от Å до мм.
• Результаты высокой точности для монокристаллических подложек.
• Соответствие стандартам SEMI и CE