Описание:

Rigaku ZSX 400 является рентгеновским флуоресцентным спектрометром на основе волновой дисперсии (WDXRF) с последовательной регистрацией. Прибор был специально разработан  для исследований очень больших и/или очень массивных образцов. В прибор можно установить образцы диаметром вплоть до 400 mm, толщиной 50 mm и весом 30 kg. Данная система идеальна для аттестации распыляющихся образцов, магнитных дисков, многослойных образцов или элементного анализа массивных объектов.

Индивидуальные адаптеры системы пробоподготовки

Будучи достаточно гибкой системой, чтобы быть адаптированной к специфическим типам ваших образцов и потребностям в анализе, ZSX 400 легко перестраивается к различным размерам и формам образцов благодаря опциональным (поставляется под заказ) адаптерам-вставкам. Варьируемая область измерений (диаметром от 30 mm до 0.5 mm с 5-шаговой автоматической системой выбора) и возможность определения топологии (mapping) с многоточечными измерениями для определения однородности образца, делает этот прибор уникально приспособляемым для ваших нужд и значительно упрощает процесс контроля качества материалов.
Камера наблюдения за образцами со специальным освещением
Камера наблюдения за образцами в реальном времени (опционально) позволяет видеть на экране анализируемую область. При этом оператор находится в полной уверенности относительно того, что измеряется.

Традиционные аналитические возможности WDXRF

Все аналитические возможности обычных WDXRF спектрометров сохранены в данном варианте прибора для «больших образцов»: элементный анализ от бериллия (Be) до (U) с высоким разрешением, высокоточная WDXRF спектроскопия от твердых тел до жидкостей, от порошковых образцов до тонких пленок. Анализируемый диапазон концентраций до досятых долей процентов ppm и толщиной от mm до sub Å. Опционально доступен модуль подавления помех для получения оптимальных результатов при аттестации монокристаллических веществ. Rigaku ZSX 400 полностью соответствует промышленным стандартам SEMI и CE.

Особенности

• Возможность анализа больших образцов
  • Диаметр до 400 mm
  • Толщина до 50 mm
  • Масса до 30 kg
• Адаптер установки образцов
  • Настраиваемый
• Область измерений
  • Диаметр от 30 mm до 0.5 mm
  • 5-шаговая, с автоматическим выбором
• Измерения топологии (mapping)
  • C возможностью одновременного измерения многих областей
• Камера наблюдения за образцами (опционально)
• Основные функции
  • Элементный анализ Be - U
  • Диапазон чувствительности: от ppm до десятых долей %
  • Диапазон толщины образцов: от sub Å нескольких mm
• Подавление помех (опционально)
  • Высокоточные результаты для монокристаллических образцов
• Соответствие промышленным стандартам
  • SEMI и CE
• Малая площадь установки
  • На 50% меньше по сравнению с предыдущей моделью