Производство полупроводников – это быстро развивающаяся отрасль, в которой все больше и больше устройств имеют высокую степень интеграции и обладают множеством различных функций. Поэтому основное оборудование, применяемое в данной отрасли, должно обеспечивать поддержку устройств нескольких поколений с самыми разнообразными функциями.
Новейшая система для тестирования интегральных схем/аналогового тестирования Chroma 3680 может быть гибко настроена для решения определенных задач и тестирования различных типов устройств.
Количество выводов системы с 24 универсальными слотами может достигать 1024, при максимальной скорости передачи данных 750 Мбит/с. В базовой комплектации объем векторной памяти составляет 256 МС, точность установки фронта – ±150 пс, что обеспечивает превосходную синхронизацию при высокоскоростной передаче данных и позволяет подключать различные опции, такие как HDADDA2 для тестирования преобразователей, HDVI для высоковольтных и автомобильных устройств, HDAVO для работы со смешанными сигналами посредством применения генераторов сигналов произвольной формы с частотой дискретизации 400 Мвыб/с и цифровых преобразователей с частотой дискретизации 250 Мвыб/с.
В состав основного блока системы 3680 входят модули распределения питания переменного и постоянного тока, а также источник питания системы. Для автоматизации работы системы доступен опциональный манипулятор для тестовой головки.
Система специально разработана для обеспечения высокой пропускной способности и параллельного тестирования устройств, что является наилучшим решением для компаний-разработчиков и испытательных центров. Благодаря широким функциональным возможностям, высокой точности, мощному программному обеспечению и превосходной надежности, система Chroma 3680 идеально подходит для тестирования потребительских устройств, высокопроизводительных микроконтроллеров, аналоговых устройств и систем на кристалле.
Модель |
3680 |
Количество каналов цифрового ввода вывода |
2048 |
Скорость передачи данных |
от 150 Мбит/с до 1 Гбит/с (мультиплексирование) |
Возможности параллельного тестирования |
512 тестовых площадок |
Программное обеспечение |
CRISPro |
Язык программирования |
C#.NET |
Операционная система |
Windows 10 |
Плата логических выводов |
LPC128 |
Количество каналов ввода/вывода |
128 |
Векторная память |
256М/опционально 512M (режим X2) |
Управляющее напряжение VIL/VIH |
-1.5 В ~ +6.4 В / -1.4 В ~ +6.5 В |
Максимальный ток выборки |
±50 мА (статический) |
Напряжение компаратора VOL/VOH |
-1.5 В – +6.5 В |
Режимы компаратора |
Фронт, Окно |
EPA (управление / ввод-вывод / сравнение) |
±150 пс/±150 пс/±150 пс |
Динамический ток нагрузки |
±25 мА |
Внешний драйвер высокого напряжения |
18 В, 12 каналов на плату, максимум 192 канала на систему |
Драйвер высокого напряжения |
13.5 В, 32 канала на каждую плату |
Число фронтов временных интервалов |
6 |
Разрешение по фронту |
12.5 пс |
Сканирование |
1/2/4/8/16/32 цепей сканирования, максимальная глубина 8G (опционально 16G) |
Высокоточный измерительный модуль |
PMU |
Количество каналов |
1 канал на 32 контакта ввода/вывода |
Диапазон напряжения |
±2.5 В, ±8 В, ±24 В |
Диапазон тока |
±800 нА – ± 250 мА |
Источник питания устройств |
DPS32 |
Количество каналов |
32 канала на плату / максимум 128 каналов на систему |
Диапазоны напряжений |
-6 В – +6 В, -6 В – +12 В |
Максимальный выходной ток |
1 А/6 В, 500 мА/12В |
Комбинируемые по току каналы |
x2 ~ x32, максимум 32 В |
Параметры питания и размеры системы |
|
Потребляемая мощность/Охлаждение |
максимум16.5 кВт / принудительное воздушное охлаждение |
Размеры тестовой головки (Д x Ш x В) |
900 x 744 x 736 мм |
Размеры основной рамы (Д x Ш x В) |
802 x596 x1018 мм |