Характеристики и описание
- Производитель
- Страна производительГермания
Описание:
Hommel-Etamic C8000 JENOPTIK — измерительная станция с компактным дизайном и очень точной системой метрологии, предназначенная для измерения геометрических параметров профиля поверхности: радиусов дуг, координат точек, расстояний, углов и топографии поверхностей. Прибор Hommel-Etamic C8000 в конфигурации DigiScan может применяться для измерений деталей сложной формы не только в лаборатории, но и в различных сферах промышленности: машиностроении, электротехническом производстве, в производстве пластмасс и т.д.
Измерительная станция C8000 JENOPTIK имеет модульную структуру и при помощи сетевой карты HommelWerke CAN-BUS к ней возможно подключение различных компонентов системы.
Полученные результаты отличаются высочайшей точностью, поскольку измерения производятся в автоматическом режиме с помощью выбранной конфигурации измерительного щупа и соответствующей программы измерений. Высокопроизводительное новейшее ПО EVOVIS для измерения топографии предлагает широкий выбор функций оценки вручную или выполняет заранее установленную последовательность измерения автоматически.
Особенности и преимущества измерительной системы Hommel-Etamic C8000 JENOPTIK
- Измерения параметров контура поверхности;
- Компактный и надежный прибор;
- Простой процесс калибровки;
- Электронное управление процессом зондирования — исключено повреждение концов щупов;
- Простота смены измерительных щупов;
- Магнитный кронштейн-манипулятор;
- Опционально: расширенные возможности измерения вверх/вниз;
- Моторизованный измерительный столик Y-Positionerer для с точного перемещения по оси Y в горизонтальной плоскости;
- Опционально: увеличение диапазона измерения при вертикальном перемещении с 60 мм до 90 мм;
- ПО EVOVIS.
Технические характеристики
|
Модификация прибора |
Т8000 |
С8000 в режиме измерений профиля |
|
|
в режиме измерений шероховатости |
в режиме измерений профиля |
||
|
Измеряемые параметры шероховатости |
Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rz-ISO; 4287 R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; Rdc; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo Rv / Rk |
- |
- |
|
Измеряемые параметры волнистости |
Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku; Wdc |
- |
- |
|
Измеряемые параметры |
Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; |
Радиусы, |
Радиусы, |
|
профиля |
PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; |
углы, |
углы, |
|
tpaa; tpab; tpac; Pmr0; |
расстояния, |
расстояния, |
|
|
APa; APa%; Pmr; Pmr% |
координаты |
координаты |
|
|
Диапазон измерений, в зависимости от применяемого щупа |
±(8; 80; 800; 8000) мкм по параметру Rmax в зависимости от типа датчика |
6 мм 20 мм 60 мм 90 мм |
6 мм 20 мм 60 мм 90 мм |
|
|
Длина измерений, мм |
0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 или от 0,01 до 16; 20; 120; 200 |
120 200 |
120 200 |
|
|
Отсечка шага λс, мм |
0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 |
- |
||
|
Типы фильтров |
Аналоговый RC-фильтр по ДИН 4768 М1 (Фильтр Гаусса 50%) по ИСО 11562 М2 (Двойной фильтр Гаусса для расчета кривой материала, Rk-параметры) по ИСО 13565-1. Коротковолновая отсечка шага λs, λc/λs по ИСО 3274/11562 |
|
||
|
Скорость перемещения датчика, мм/с |
0,05; 0,15; 0,5 или произвольно выбираемая от 0,01 до 2 |
От 0,02 до 3 |
||
|
Радиус кривизны щупа, мкм |
2; 5 |
22; 250; 500; 1000; 2000;3000 |
||
|
Измерительное усилие, мН |
От 0,05 до 2 в зависимости от типа датчика |
± (от 0 до 20) регулируемое |
||
|
Вертикальная стойка: |
||||
|
- диапазон перемещений, мм |
400; 800 |
|||
|
- угол поворота привода,...° |
±45 |
|||
|
- габаритные размеры гранитного основания, мм -длина; -ширина |
780; 1000 500 |
|||
|
Электрическое питание: |
230 (+15 %, -10 %) В, 50-60 Гц |
|||
|
Предел допускаемой систематической составляющей основной погрешности прибора по параметру Ra, % |
3 |
- |
||
|
Пределы допускаемой погрешности при измерении по оси Х, мкм |
||||
Измерительная станция (профилометр) JENOPTIK Hommel-Etamic C8000
Под заказ
Цену уточняйте
Минск ∙
Доставка
Оплата и гарантии